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能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術可通過簡易的樣品制備，實現主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。

先進的技術

• 獨特的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測器
• 數字脈沖處理 (DPP) 技術
• 高性能、多元素分析

• 出色的痕量分析靈敏度
• 高分析量的進程控制
• 適用于異常材料的高級分析算法
• 出色的樣品處理靈活性
• 機械簡化和靈活性
• 占地面積小、易于運輸以進行野外測量
• 快速、簡易的安裝以及可完全現場定制
• 隨附完整的實驗室啟用套件
• 經驗證的硬件和全套軟件
• 現場、協同方法開發
• 完整的技術應用支持
• 匯集了數百種應用的專業知識

• 無標和半無標分析
• 基本參數 (FP) 和基于標樣的經驗方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數量的標樣
• 利用自動化操作實現多個激發條件

• 懸浮顆粒物過濾器
• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
• 法醫及痕量分析
• 營養補充劑
• 磁性介質和半導體
• 土壤污染
• 過濾器上的薄膜
• 塑料中的有毒元素