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測(cè)量范圍（eV）

3.40 - 7.50

4.00 - 9.54

*小測(cè)量間隔（eV）

0.01

重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)偏差）

   0.02

0.015

熱機(jī)時(shí)間（ Min）

25

光斑尺寸（mm）

1×2

可測(cè)樣品尺寸

W60×H50 mm（Max）

D10 mm（Max）

測(cè)量環(huán)境

空氣、氮?dú)狻⒄婵?/span>

可測(cè)樣品類型

粉末、薄膜、金屬材料、半導(dǎo)體材料、ITO、FTO、OLED有機(jī)光電材料、有機(jī)太陽(yáng)能材料、鈣鈦礦材料、富勒烯/石墨烯衍生物、碳納米材料、鋰電池材料等。

除IPS-3可測(cè)樣品范圍外，還包括：TCNQ衍生物材料、QD光電材料、無(wú)機(jī)太陽(yáng)電池材料、金屬氧化物/硫化物材料、水氧敏感型材料等。